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Métrologie des surfaces : COFFMET SURF

Ref - SURF01 NOUVEAU

Objectifs opérationnels

Métrologie de surface pour des décisions sécurisées et une communication inter-divisions rentable

Présentation
Programme
Sessions

Senlis
- Dates: nous consulter
  - Prix public : 1200 € HT

Durée : 14 heures

Objectifs pédagogiques

Situer les informations dans les normes d’états de surfaces 2D et 3D
Décomposer une spécification d’état de surface 2D ou 3D
Apprécier et traduire des résultats de mesures
Examiner et interpréter des profils 2D ou surfaces 3D à travers certains paramètres

Méthodes pédagogiques

Méthode pédagogique alternant théorie, exercices en fin de module et démonstrations sur logiciels et appareils

Moyens d'évaluation

Quiz de fin de module + examen de fin de formation

Profil du formateur

Formateur expert dans la mesure des Etats de Surfaces, unique formateur accrédité par AUKOM pour animer cette formation en France

Personnel concerné

Techniciens de mesure de production, ingénieurs de production, développeurs, ingénieurs concepteurs, responsables AQ

Pré-requis

Aucun prérequis technique

Fondamentaux et historique
- Test de l’ongle
- Méthode du palpeur
- Surveillance de la production
Appareils de mesure et capteurs
- Palpeurs tactiles et optiques
Filtres et longueurs d’onde de coupure
- Introduction au filtrage
- Passe-haut, Passe-bas, Passe-bande
- Longueurs d’onde de coupure λc, λs, λf
- Analyse de Fourier
- Analyses spécifiques, types de filtres et autres applications du filtrage numérique
Mesure
- Choix de l’appareil de mesure
- Préparation de l’appareil et emplacement de la mesure
- Règles d’acceptation des tolérances
Paramètres 2D (ISO 21920)
- NF EN ISO 21920 : les changements de la nouvelle norme
- NF EN ISO 4287 : anciens et nouveaux paramètres
Spécification
- Spécification ISO 1302, VDA 2005 et ISO 21920- 1
- Délimitation des imperfections de surface
Étalonnage
- Ajustage, qualification et étalonnage des appareils de mesure
Nouveautés de l’ISO21920
- Motivation des nouvelles normes de profil
Paramètres 3D (ISO25178)
- Séquence de mesure surfacique
- Filtrage de mesure surfacique
- Paramètres 3D
- Différence entre rugosité de profil et de surface
Méthode des motifs ISO12085
- Conditions de mesure par la méthode des motifs et applications
Examen