Créé le : 14/01/2026
Ce dossier de veille dresse un panorama actualisé des technologies de mesure in-situ en décolletage, à la frontière entre solutions industrielles matures et innovations de rupture.
Il met en lumière la montée en puissance des capteurs embarqués (optiques, laser, acoustiques, inductifs) et leur intégration directe sur machine.
L’analyse révèle un glissement stratégique : de la mesure pièce vers la surveillance intelligente de l’outil, clé de la stabilité dimensionnelle.
Les travaux académiques montrent comment l’IA transforme les signaux bruts en décisions exploitables en temps réel.
Un dossier indispensable pour comprendre les tendances 2025 et anticiper les futurs standards du décolletage de précision.
